Электронный каталог

Статья

Fretwurst, E.
The Influence of Edge Effects on the Determination of the Doping Profile of Silicon Pad Diodes / E.Fretwurst, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2017. – Vol.867. – p.231-236. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2017.04.020. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы