Электронный каталог

Статья

Bakerenkov, A.S.
ELDRS Susceptibility of Bipolar Transistors and Integrated Circuits During Low-Temperature Irradiation / A.S.Bakerenkov, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2227-2234. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2677261. – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$