Электронный каталог

Статья

Franco, F.J.
Statistical Deviations From the Theoretical Only-SBU Model to Estimate MCU Rates in SRAMs / F.J.Franco, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2152-2160. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2726938. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$