Электронный каталог

Статья

Chen, Y.P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops / Y.P.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2144-2151. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2687403. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$