Электронный каталог

Статья

Chen, R.M.
Effects of Temperature and Supply Voltage on SEU- and SET-Induced Errors in Bulk 40-nm Sequential Circuits / R.M.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2122-2128. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2647749. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$