Электронный каталог

Статья

Harrington, R.C.
Estimating Single-Event Logic Cross Sections in Advanced Technologies / R.C.Harrington, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2115-2121. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2718517. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$