Электронный каталог

Статья

Chen, R.M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits / R.M.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2098-2106. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2711034. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$