Электронный каталог

Статья

Edmonds, L.D.
Total Ionizing Dose Influence on the Single Event Effect Sensitivity in Samsung 8Gb NAND Flash Memories / L.D.Edmonds, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – p.2046-2053. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2641966. – Bibliogr.:14.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$