Электронный каталог

Статья

Yan, X.
Impacts of Thermal Annealing Temperature on Memory Properties of Charge Trapping Memory with NiO Nano-Pillars / X.Yan, [et al.] // Physics Letters A. – 2017. – Vol.381, No.10. – p.913-916. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.physleta.2017.01.015. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$