Электронный каталог

Статья

Liu, T.
Application of SEU Imaging for Analysis of Device Architecture Using a 25 MeV/u *8*6Kr Ion Microbeam at HIRFL / T.Liu, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2017. – Vol.404. – p.254-258. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2017.01.069. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$