Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science
Доступно
1 из 1
1 из 1
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – P.2001-2352.
Ключевых слов = 4/18
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.8, Pt.1. – P.2001-2352.
Ключевых слов = 4/18
Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|---|
ЦБ.ЧЗ | 0 | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
Связанные описания:
Статья
Selected Papers from the 2016 Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (...
б.г.
ISBN отсутствует
Selected Papers from the 2016 Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pierron, J.
Ionizing Dose Calculations for Low Energy Electrons in Silicon and Aluminum
б.г.
ISBN отсутствует
Pierron, J.
Ionizing Dose Calculations for Low Energy Electrons in Silicon and Aluminum
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Arruda, L.
SEP Protons in GEO Measured with the ESA MultiFunctional Spectrometer
б.г.
ISBN отсутствует
Arruda, L.
SEP Protons in GEO Measured with the ESA MultiFunctional Spectrometer
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Steffens, M.
Characterization of Novel Lightweight Radiation Shielding Materials for Space Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Steffens, M.
Characterization of Novel Lightweight Radiation Shielding Materials for Space Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Reghioua, I.
Cathodoluminescence Characterization of Point Defects in Optical Fibers
б.г.
ISBN отсутствует
Reghioua, I.
Cathodoluminescence Characterization of Point Defects in Optical Fibers
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Alessi, A.
Irradiation Temperature Influence on the In Situ Measured Radiation Induced Attenuation of Ge-Dop...
б.г.
ISBN отсутствует
Alessi, A.
Irradiation Temperature Influence on the In Situ Measured Radiation Induced Attenuation of Ge-Dop...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kuhnhenn, J.
Gamma Radiation Tests of Radiation-Hardened Fiber Bragg Grating-Based Sensors for Radiation Envir...
б.г.
ISBN отсутствует
Kuhnhenn, J.
Gamma Radiation Tests of Radiation-Hardened Fiber Bragg Grating-Based Sensors for Radiation Envir...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Taggart, J. L.
Resistance State Locking in CBRAM Cells Due to Displacement Damage Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Taggart, J. L.
Resistance State Locking in CBRAM Cells Due to Displacement Damage Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mahmud, A.
A Comparative Study on TID Influenced Lateral Diffusion of Group 11 Metals Into Ge&sub(x)S&sub(1−...
б.г.
ISBN отсутствует
Mahmud, A.
A Comparative Study on TID Influenced Lateral Diffusion of Group 11 Metals Into Ge&sub(x)S&sub(1−...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Petitdidier, S.
Influence of Neutron Irradiation on Electron Traps Induced by NGB Stress in AlInN/GaN HEMTs
б.г.
ISBN отсутствует
Petitdidier, S.
Influence of Neutron Irradiation on Electron Traps Induced by NGB Stress in AlInN/GaN HEMTs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Weulersse, C.
Preliminary Guidelines and Predictions for 14-MeV Neutron SEE Testing
б.г.
ISBN отсутствует
Weulersse, C.
Preliminary Guidelines and Predictions for 14-MeV Neutron SEE Testing
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abou-Auf, A. A.
Fault Modeling and Worst Case Test Vector Generation for Flash-Based FPGAs Exposed to Total Dose
б.г.
ISBN отсутствует
Abou-Auf, A. A.
Fault Modeling and Worst Case Test Vector Generation for Flash-Based FPGAs Exposed to Total Dose
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zerarka, M.
TCAD Simulation of the Single Event Effects in Normally-OFF GaN Transistors After Heavy Ion Radia...
б.г.
ISBN отсутствует
Zerarka, M.
TCAD Simulation of the Single Event Effects in Normally-OFF GaN Transistors After Heavy Ion Radia...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zebrev, G. I.
Compact Modeling of MOSFET I – V Characteristics and Simulation of Dose-Dependent Drain Currents
б.г.
ISBN отсутствует
Zebrev, G. I.
Compact Modeling of MOSFET I – V Characteristics and Simulation of Dose-Dependent Drain Currents
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lunardi, C.
Experimental and Analytical Analysis of Sorting Algorithms Error Criticality for HPC and Large Se...
б.г.
ISBN отсутствует
Lunardi, C.
Experimental and Analytical Analysis of Sorting Algorithms Error Criticality for HPC and Large Se...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tonfat, J.
Analyzing the Influence of the Angles of Incidence and Rotation on MBU Events Induced by Low LET ...
б.г.
ISBN отсутствует
Tonfat, J.
Analyzing the Influence of the Angles of Incidence and Rotation on MBU Events Induced by Low LET ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Franco, F. J.
Statistical Deviations From the Theoretical Only-SBU Model to Estimate MCU Rates in SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Franco, F. J.
Statistical Deviations From the Theoretical Only-SBU Model to Estimate MCU Rates in SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, Y. P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Y. P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mitrovic, M.
Experimental Investigation of Single-Event Transient Waveforms Depending on Transistor Spacing an...
б.г.
ISBN отсутствует
Mitrovic, M.
Experimental Investigation of Single-Event Transient Waveforms Depending on Transistor Spacing an...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, R. M.
Effects of Temperature and Supply Voltage on SEU- and SET-Induced Errors in Bulk 40-nm Sequential...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R. M.
Effects of Temperature and Supply Voltage on SEU- and SET-Induced Errors in Bulk 40-nm Sequential...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Harrington, R. C.
Estimating Single-Event Logic Cross Sections in Advanced Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Harrington, R. C.
Estimating Single-Event Logic Cross Sections in Advanced Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Secondo, R.
Analysis of SEL on Commercial SRAM Memories and Mixed-Field Characterization of a Latchup Detecti...
б.г.
ISBN отсутствует
Secondo, R.
Analysis of SEL on Commercial SRAM Memories and Mixed-Field Characterization of a Latchup Detecti...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, R. M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R. M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ildefonso, A.
Modeling Single-Event Transient Propagation in a SiGe BiCMOS Direct-Conversion Receiver
б.г.
ISBN отсутствует
Ildefonso, A.
Modeling Single-Event Transient Propagation in a SiGe BiCMOS Direct-Conversion Receiver
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ni, K.
Understanding Charge Collection Mechanisms in InGaAs FinFETs Using High-Speed Pulsed-Laser Transi...
б.г.
ISBN отсутствует
Ni, K.
Understanding Charge Collection Mechanisms in InGaAs FinFETs Using High-Speed Pulsed-Laser Transi...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gaillardin, M.
Total Ionizing Dose Response of Multiple-Gate Nanowire Field Effect Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Gaillardin, M.
Total Ionizing Dose Response of Multiple-Gate Nanowire Field Effect Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Brucoli, M.
Floating Gate Dosimeter Suitability for Accelerator-Like Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Brucoli, M.
Floating Gate Dosimeter Suitability for Accelerator-Like Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Alayan, M.
Experimental and Simulation Studies of the Effects of Heavy-Ion Irradiation on HfO&sub(2)-Based R...
б.г.
ISBN отсутствует
Alayan, M.
Experimental and Simulation Studies of the Effects of Heavy-Ion Irradiation on HfO&sub(2)-Based R...
б.г.
ISBN отсутствует