Электронный каталог

Препринты
050376

Luebbert, D.
X-Ray Diffuse Scattering Study of the Kinetics of Stacking Fault Growth and Annihilation in Boron-Implanted Silicon / D.Luebbert, [a.o.]. – Stanford : SLAC, 2002. – 16p. : il. – (SLAC-PUB, ISSN 0418-9833 ; 9244). – URL: http://www.slac.stanford.edu/pubs/slacpubs/9000/slac-pub-9244.html. – Bibliogr.:p.11-12.

3


Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей