Электронный каталог

Статья

Haefner, J.
Reflectance Dependence of Polytetrafluoroethylene on Thickness for Xenon Scintillation Light / J.Haefner, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2017. – Vol.856. – p.86-91. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2017.01.057. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1ж - Сцинтилляционные счетчики, камеры. Сцинтилляционные вещества. Микроканальные умножители