Электронный каталог

Статья

Liu, J.
Simulation and Measurement of Total Ionizing Dose Radiation Induced Image Lag Increase in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors / J.Liu, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2017. – Vol.856. – p.32-35. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2017.02.085. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков