Электронный каталог

Статья

Hofman, J.
In-Situ Measurement of Total Ionising Dose Induced Changes in Threshold Voltage and Temperature Coefficients of RADFETs / J.Hofman, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.1, Pt.1. – p.582-586. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2630275. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков