Электронный каталог

Статья

Jay, A.
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon - Part II: Generation and Long-Time Relaxation of Damage Structure / A.Jay, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.1, Pt.1. – p.141-148. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2628089. – Bibliogr.:30.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$