Электронный каталог

Статья

Raine, M.
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon – Part I: Global Approach and Primary Interaction Simulation / M.Raine, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2017. – Vol.64, No.1, Pt.1. – p.133-140. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2615133. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$