Электронный каталог

Статья

Valentan, M.
Strip Defect Recognition in Electrical Tests of Silicon Microstrip Sensors / M.Valentan // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2017. – Vol.845. – p.185-188. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.06.092. – Bibliogr.:3.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы