Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Hasanbegovic, A. - Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supp...
Hasanbegovic, A. - Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supp...
Статья
Автор: Hasanbegovic, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supp...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Hasanbegovic, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supp...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Hasanbegovic, A.
Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supply Voltage Range in a 65 nm Bulk CMOS Process / A.Hasanbegovic, S.Aunet // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.6. – p.2962-2970. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2016.2614781. – Bibliogr.:18.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Hasanbegovic, A.
Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supply Voltage Range in a 65 nm Bulk CMOS Process / A.Hasanbegovic, S.Aunet // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.6. – p.2962-2970. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2016.2614781. – Bibliogr.:18.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1