Электронный каталог

Статья

Li, Y.-Q.
A 65 nm Temporally Hardened Flip-Flop Circuit / Y.-Q.Li, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.6. – p.2934-2940. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2016.2608911. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3д - Триггерные и пересчетные схемы: двоичные, кольцевые и декадные