Электронный каталог

Статья

Zalm, P.C.
Quantitative Considerations in Medium Energy Ion Scattering Depth Profiling Analysis of Nanolayers / P.C.Zalm, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.387. – p.77-85. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.10.004. – Bibliogr.:39.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$