Электронный каталог

Статья

Wang, J.
Modification of SRIM-Calculated Dose and Injected Ion Profiles Due to Sputtering, Injected Ion Buildup and Void Swelling / J.Wang, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.387. – p.20-28. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.09.015. – Bibliogr.:48.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков