Электронный каталог

Статья

Frisk, A.
Resonant x-Ray Diffraction Revealing Chemical Disorder in Sputtered L1&sub(0) FeNi on Si(0 0 1) / A.Frisk, [et al.] // Journal of Physics: Condensed Matter. – 2016. – Vol.28, No.40. – p.406002. – URL: http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/28/40/406002. – Bibliogr.:36.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей