Электронный каталог

Статья

Wang, N.
Phase-Field-Crystal Model for Electromigration in Metal Interconnects / N.Wang, [et al.] // Physical Review Letters. – 2016. – Vol.117, No.15. – p.155901. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.117.155901. – Bibliogr.:38.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$