Электронный каталог

Статья

Dai, L.
Anomalous Electrical Properties Induced by Hot-Electron-Injection in 130-nm Partially Depleted SOI NMOSFETs Fabricated on Modified Wafer / L.Dai, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.5, Pt.2. – p.2731-2737. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2604342. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$