Электронный каталог

Статья

Yu, C.-H.
Simulation Study of Single-Event Burnout in Power Trench ACCUFETs / C.-H.Yu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.5, Pt.2. – p.2709-2715. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2598871. – Bibliogr.:31.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$