Электронный каталог

Статья

Suh, J.
Tellurium Secondary-Phase Defects in CdZnTe and Their Association With the 1.1-eV Deep Trap / J.Suh, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.5, Pt.2. – p.2657-2661. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2016.2598743. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1с - Детекторы гамма-квантов
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов