Электронный каталог

Статья

Wang, Z.
Image Analysis of Single Event Transient Effects on Charge Coupled Devices Irradiated by Protons / Z.Wang, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2016. – Vol.834. – p.118-122. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.07.046. – Bibliogr.:12.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$