Электронный каталог

Статья

Wu, L.
Fine-Tuning the Etch Depth Profile Via Dynamic Shielding of Ion Beam / L.Wu, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.381. – p.72-75. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.05.021. – Bibliogr.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = С 350 - Приложения методов ядерной физики в смежных областях