Электронный каталог

Статья

Du, X.
Soft Error Evaluation and Vulnerability Analysis in Xilinx Zynq-7010 System-on Chip / X.Du, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2016. – Vol.831. – p.344-348. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.04.046. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$