Электронный каталог

Статья

Суворов, Э.В.
Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью "изгибных интерференционных полос" / Э.В.Суворов, И.А.Смирнова // Журнал технической физики. Письма. – 2016. – Т.42, №18. – с.55-62. – URL: http://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/43697. – Библиогр.:12.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$