Электронный каталог

Статья

Anjum, A.
A Comparison of 4 MeV Proton and Co-60 Gamma Irradiation Induced Degradation in the Electrical Characteristics of N-Channel MOSFETs / A.Anjum, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.379. – p.265-271. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.04.023. – Bibliogr.:36.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы