Электронный каталог

Статья

Hanf, D.
A New Particle-Induced X-Ray Emission Set-Up for Laterally Resolved Analysis Over Wide Areas / D.Hanf, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.377. – p.17-24. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.03.032. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов