Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Мокрушин, А.Д. - Анализ состава пленок оксида графена с помощью обратно рассеянного пучка ионов H*+
Мокрушин, А.Д. - Анализ состава пленок оксида графена с помощью обратно рассеянного пучка ионов H*+
Статья
Автор: Мокрушин, А.Д.
Поверхность: Анализ состава пленок оксида графена с помощью обратно рассеянного пучка ионов H*+
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Мокрушин, А.Д.
Поверхность: Анализ состава пленок оксида графена с помощью обратно рассеянного пучка ионов H*+
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Мокрушин, А.Д.
Анализ состава пленок оксида графена с помощью обратно рассеянного пучка ионов H*+ / А.Д.Мокрушин, [и др.] // Поверхность. – 2016. – №6. – с.69-72. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1027451016030290. – Библиогр.:9.
Спец.(статьи,препринты) = С 325.7 - Фуллерены (Сn). Атомные кластеры
Мокрушин, А.Д.
Анализ состава пленок оксида графена с помощью обратно рассеянного пучка ионов H*+ / А.Д.Мокрушин, [и др.] // Поверхность. – 2016. – №6. – с.69-72. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1027451016030290. – Библиогр.:9.
Спец.(статьи,препринты) = С 325.7 - Фуллерены (Сn). Атомные кластеры
