Электронный каталог

Статья

Wang, Y.
A Fully Integrated 0.055 % INL X-Ray CCD Readout ASIC with Incremental *D*SADC / Y.Wang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.3, Pt.3. – p.1733-1739. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2016.2543261. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$