Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Benfica, J. - Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects
Benfica, J. - Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects
Статья
Автор: Benfica, J.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Benfica, J.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Benfica, J.
Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects / J.Benfica, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.2, Pt.3. – p.1294-1300. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2016.2523458. – Bibliogr.:24.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Benfica, J.
Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects / J.Benfica, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2016. – Vol.63, No.2, Pt.3. – p.1294-1300. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2016.2523458. – Bibliogr.:24.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.63, No.2, Pt.3
2016 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.63, No.2, Pt.3
2016 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ