Электронный каталог

Статья

Alarcon-Diez, V.
Rutherford Backscattering Spectrometry Analysis of Iron-Containing Bi&sub(2)Se&sub(3) Topological Insulator Thin Films / V.Alarcon-Diez, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.371. – p.224-229. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.11.031. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$