Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Pallon, J. - Ion Beam Evaluation of Silicon Carbide Membrane Structures Intended for Particle Detectors
Pallon, J. - Ion Beam Evaluation of Silicon Carbide Membrane Structures Intended for Particle Detectors
Статья
Автор: Pallon, J.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: Ion Beam Evaluation of Silicon Carbide Membrane Structures Intended for Particle Detectors
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Pallon, J.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: Ion Beam Evaluation of Silicon Carbide Membrane Structures Intended for Particle Detectors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pallon, J.
Ion Beam Evaluation of Silicon Carbide Membrane Structures Intended for Particle Detectors / J.Pallon, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.371. – p.132-136. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.10.045. – Bibliogr.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов
Pallon, J.
Ion Beam Evaluation of Silicon Carbide Membrane Structures Intended for Particle Detectors / J.Pallon, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2016. – Vol.371. – p.132-136. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.10.045. – Bibliogr.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов