Электронный каталог

Статья

Nunes, B.
Structural Characterization of Dual Ion Implantation in Silicon / B.Nunes, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2015. – Vol.365, Pt.A. – p.39-43. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.08.006. – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$