Электронный каталог

Статья

Gaillardin, M.
Investigations on Heavy Ion Induced Single-Event Transients (SETs) in Highly-Scaled FinFETs / M.Gaillardin, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2015. – Vol.365, Pt.B. – p.631-635. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.08.085. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$