Электронный каталог

Статья

Liu, R.
Investigation of Single-Bit and Multiple-Bit Upsets in Oxide RRAM-Based 1T1R and Crossbar Memory Arrays / R.Liu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.5, Pt.2. – p.2294-2301. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2465164. – Bibliogr.:35.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 841 в - Запоминающие устройства