Электронный каталог

Статья

Shen, X.
Quantum Mechanical Modeling of Radiation-Induced Defect Dynamics in Electronic Devices / X.Shen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.5, Pt.2. – p.2169-2180. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2470665. – Bibliogr.:103.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$