Электронный каталог

Статья

Hasanbegovic, A.
Supply Voltage Dependency on the Single Event Upset Susceptibility of Temporal Dual-Feedback Flip-Flops in a 90 nm Bulk CMOS Process / A.Hasanbegovic, S.Aunet // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.4, Pt.2. – p.1888-1897. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2454479. – Bibliogr.:30.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 73 - Радиоаппаратура и радиодетали