Электронный каталог -Li, H. - Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits- Absopac

Статья
Автор: Li, H.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Li, H.
Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits / H.Li, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.3, Pt.3. – p.1341-48. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2423672. – Bibliogr.:22.

Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Li, H. - Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits

Li, H. - Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Li, H. - Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits

Li, H. - Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits

Привязано к: