Электронный каталог

Статья

Gaillardin, M.
High Total Ionizing Dose and Temperature Effects on Micro- and Nano-Electronic Devices / M.Gaillardin, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.3, Pt.3. – p.1226-32. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2416975. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$