Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Yu, Y.-T. - Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test
Yu, Y.-T. - Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test
Статья
Автор: Yu, Y.-T.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Yu, Y.-T.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yu, Y.-T.
Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test / Y.-T.Yu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.2. – p.565-570. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2412555. – Bibliogr.:33.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1э - Использование лазеров в ядерной физике
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Yu, Y.-T.
Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test / Y.-T.Yu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.2. – p.565-570. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2412555. – Bibliogr.:33.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1э - Использование лазеров в ядерной физике
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$