Электронный каталог

Статья

Hirokawa, S.
Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs / S.Hirokawa, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2015. – Vol.62, No.2. – p.420-427. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2015.2403265. – Bibliogr.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$