Электронный каталог

Статья

Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory / D.Mahalanabis, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3557-3563. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2358235. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$