Электронный каталог

Статья

Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in CMOS Technology / L.Artola, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3543-3549. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2362857. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$