Электронный каталог

Статья

Chatterjee, I.
Impact of Technology Scaling on SRAM Soft Error Rates / I.Chatterjee, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3512-3518. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2365546. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$